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商品详情
| 产品参数 | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | HMILU | ||
| 包装 | 盒装 | ||
| 零件状态 | 在售 | ||
| 安装类型 | 卡入式 | ||
| 特性 | 芯片老化测试 | ||
| 材料 | PEEK BeCu AL | ||
| 颜色分类 | 下单请确认最新价格 | ||
| 适用场景 | 老化，测试 | ||
| 产地 | 中国大陆 | ||
| 封装方式 | QFN/CLCC | ||
| 引脚间距 | 0.5mm | ||
| 测试座类型 | 翻盖式探针座 | ||
| 总尺寸 (含引脚) | 20x20x1mm | ||
| 引脚数 | 24个 | ||
| 数量 | 1 | ||
| 封装 | CLCC | ||
| 批号 | 以出货为准 | ||
| 可售卖地 | 全国 | ||
| 用途 | EEPROM老化测试 | ||
| 型号 | CLCC24翻盖探针多工位测试座 | ||
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